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Über dieses Produkt
Besuchen Sie die ProduktseiteDie Rasterkraftmikroskopie (AFM = Atomic Force Microscopy) ist ein im Jahre 1985 entwickeltes Rastersondenmikroskopieverfahren. Die Rasterkraftmikroskopie ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberfläche
Dreidimensionale Abbildung und Vermessung von Oberflächen
Bestimmung von Rauheiten, Stufenhöhen und Steigungen
Anwendbar im Vakuum, an Luft und unter Flüssigkeiten
Abbildung der Lateralverteilung von elektrostatischen und magnetischen Feldern
Darstellung mechanischer Materialkontraste; z.B. Verdickerstrukturen in Fetten
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